塑料薄膜的厚度测量和控制

薄膜厚度测量 塑料薄膜的种类很多，如PE、PP、PVC、PA、PET薄膜等；其厚度范围可由几微米到几百微米；其应用领域涉及包装材料、绝缘材料、感光材料、磁带基材、农用薄膜、玻璃贴膜等。普通的塑料薄膜基本上是采用吹塑、压延等成型工艺生产的，如聚乙烯膜、聚氯乙烯膜，它们的生产速度较低，厚度均匀性要求也不太高，故可在线进行接触式厚度测量。但是对于双向拉伸薄膜来说，由于双拉生产线是一个高速、连续化生产的过程，其线速度高达300m/min以上，双向拉伸薄膜的厚度，都是采用精度很高、非接触式测厚仪和反馈控制系统进行自动检测和控制。 最常用的非接触式的厚度测量仪有： X-射线测厚仪、β-射线测厚仪、近红外线测厚仪等。 近红外线测厚技术 该技术的原理是：利用不同物质对近红外光线（1.0~3.0μｍ）的吸收特性来连续测量物质厚度。当红外线穿过塑料薄膜时，有一部分红外光线被薄膜选择性地吸收，这种选择性吸收与波长有关。其波长为该薄膜的吸收波长。另一部分很少或不被塑料薄膜所吸收，称之为一般吸收，它几乎与波长无关。我们选择对薄膜具有强力吸收的3.4μｍ吸收波长和对薄膜不吸收的3.1μｍ参比波长，依据贝耳吸收定律，比较吸收波长和参比波长的信号变化，就可获得薄膜材料的厚度值。例如，NDC公司近红外NDC710型传感器具有以下性能特点： ·测量精度高，具有快速测量和高分辨率的特点； ·测量稳定，不受环境温度影响； ·薄膜在传感器间隙内抖动仍能保持对厚度测量的高精度； ·采用不同物质具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度。 β测厚仪的测厚技术 β测厚仪是一种放射性同位素仪器，它利用Kr85或Pm放射源放射出的低能量β射线穿过薄膜后被部分吸收而减弱的原理对塑料薄膜进行测量。 β测厚仪系统由测量头、扫描架和控制柜等组成。